鋰離子電池防護板常見缺陷分析

一、無閃蒸，輸出電壓，無負載

這種不良的初級排斥不良電池(電池原本無電壓或低電壓)，假定不良電池應測試看護板自耗是否過大導致電池電量過低。假如電池電壓正常，則是由于保護板的整個電路都是閉合的(元器件的假焊、熔斷器的缺陷、PCB板內部電路閉合、通孔閉合、MOS、IC損壞等)。一個具體的分析

流程如下:

(I)將黑色計筆連接到電池的負極,紅米筆保險絲和R1阻力反過來,Vdd,Dout,CoutIC,P+結束(假定電池電壓為3.8v),一段一段的分析,幾個測試點應3.8v。否則，電路就有問題。

1.改變熔斷器兩端電壓:檢查熔斷器是否打開，指導規則是否PCB板內部電路未連接;假如常規熔斷器有問題(進線不良、過流損壞(MOS或IC控制故障)，或材料有問題(熔斷器在MOS或IC動作之前燒斷)，則用金屬絲熔斷以作進一步分析。

2.改變R1電阻兩端的電壓:檢查R1的電阻值。假如電阻值異常，可能是虛焊，電阻本身開裂。假如阻值沒有異常，IC的內阻可能是一個問題。

3.IC測試端電壓改變，Vdd端接R1電阻Dout、Cout端出故障，因為IC虛焊或損壞。

4、假如前面的電壓沒有變化，測試B-到P+之間的電壓是否異常，因為保護板是通過孔的。

(2)紅色儀表筆連接電池正極。激活MOS管后，將黑色儀表筆連接到MOS管的2、3、6、7管腳，p端。

1.假如MOS管2、3、6、7引腳的電壓發生變化，則顯示MOS管異常。

2.假如MOS管電壓沒有變化，p端電壓異常，是由于保護板被孔堵塞。

二、短路無保護

1.VM電阻問題:萬用表可與IC2引腳連接，表筆可與VM電阻連接的MOS引腳連接，且允許其阻值。看電阻是否與IC、MOS引腳虛焊。

2.IC和MOS失調:過放電保護和過電流、短路保護共用一個MOS管。假如短路故障是由MOS問題引起的，則該板不應具有過放電保護功能。

3.以上為正常情況下的缺陷，或IC、MOS設備引起的短路故障。例如，型號為312D的bk-901，內部延時過長，導致MOS或其他器件在IC進行相應的動作控制之前被損壞。注:同時，確認IC或MOS是否有故障的最簡單、最直接的方法是更換可疑的元器件。

短路保護，無自恢復功能

1.用于規劃的IC沒有自恢復功能，如G2J、G2Z等。

2.儀器設置短路恢復時間太短,或負載短路測試期間不刪除,如短路計筆不是從測試結束后短路計筆短路與萬用表電壓文件(萬用表相當于一堆幾兆字節)。

3.P+和P-之間的泄漏，如焊盤之間有雜質的松香，有雜質的黃膠或P+和P-電容之間的P斷，ICVdd和Vss斷。(電阻值只有幾K到幾百K)。

4.假設以上都是可以的，IC可能會壞掉，可以測試IC的引腳之間的阻值。

4、內部阻力

1.由于金屬氧化物半導體的內阻相對穩定，且存在較大的內阻，所以重要的嫌疑人應該是FUSE或PTC，這類器件更換起來相對簡單。

2.若熔斷器或PTC電阻值正常，則根據保護板的結構，可檢測到P+、P-pad與元件表面之間的通孔電阻值，通孔電阻值可稍破，但電阻值較大。

3.假如沒有上述問題，就有必要懷疑MOS是否出了問題。其次，看板的厚度(是否容易彎曲)，因為彎曲可能會導致焊接銷的不正常;然后將MOS管置于顯微鏡下觀察是否斷裂