在運放的應用中，不可避免的會碰到運放的輸入失調電壓Vos問題，尤其對直流信號進行放大時，由于輸入失調電壓Vos的存在，放大電路的輸出端總會疊加我們不期望的誤差。舉個簡單，老套，而經典的例子，由于輸入失調電壓的存在，會讓我們的電子秤在沒經調校時，還沒放東西，就會有重量顯示。我們總不希望，買到的重量與實際重有差異吧，買蘋果差點還沒什么，要是買白金戒指時，差一克可是不少的money哦。下面介紹一下運放的失調電壓，以及它的計算。最后再介紹一些TI的低輸入失調電壓運放。

理想情況下，當運放兩個輸入端的輸入電壓相同時，運放的輸出電壓應為0V，但實際情況確是，即使兩輸入端的電壓相同，放大電路也會有一個小的電壓輸出。如下圖，這就是由運放的輸入失調電壓引起的。

當然嚴格的定義應為，為了使運放的輸出電壓等于0，必需在運放兩個輸入端加一個小的電壓。這個需要加的小電壓即為輸入失調電壓Vos。注意，是為了使出電壓為0，而加的輸入電壓，而不是輸入相同時，輸出失調電壓除以增益（微小區別）。

運放的輸入失調電壓來源于運放差分輸入級兩個管子的不匹配。如下圖。受工藝水平的限制，這個不匹配是不可避免的。差分輸入級的不匹配是個壞孩子，它還會引起很多其他的問題，以后介紹。

輸入失調電壓定義：為了使輸出電壓為0，必須在運放兩個輸入端加一個小電壓，這個電壓就是輸入失調電壓。

輸入失調電壓來源跟輸入偏置電流一樣，在于運放差分輸入級兩個管子的不匹配。

兩個管子的匹配度在一定范圍內和管子面積的平方根成正比，就是說匹配度提高到原來的兩倍，面積就是原來的四倍。當達到一定水平后，增加面積也不行了。而且增加面積會增加成本，所以常用的方法是在運放生成出來后再進行測試，然后再trim（調校），這樣能使運放精度大大提高。由于調試的成本導致高精度運放價格也更高。

再說兩個重要參數，首先是失調電壓的溫漂，即失調電壓的大小會隨著溫度變化而變化。

失調電壓溫漂定義為：△Vos/△T=［Vos（T）–Vos（25℃）］/（T-25℃）

還有一個就是輸入失調電壓的長期漂移，一般會給出類似于uV/1000hours或uV/month的單位。

下面是計算一個運放在85℃時的最大失調電壓的例子，假設溫漂為1uV/℃。

最大失調電壓分為兩部分：25℃的失調電壓+溫度變化引起的溫漂。如下圖：

如果將以上電路增益改為101，則輸出為8585uV，看出看似溫漂1uV/℃很小，實際輸出時溫漂就成了誤差的主要來源，所以如果產品應用環境溫差大時一定要注意溫漂。

需要提醒的是，使用簡易方法測試單電源運放的輸入失調電壓時，需要將輸入端短路并提供低噪聲穩定電壓偏置。如下圖：

我們關注輸入失調電壓，是因為他會給放大電路帶來誤差。下面就要分析它帶來的誤差。在計算之前，我們再認識一個讓我們不太爽的參數，失調電壓的溫漂，也就是說，上面提到的輸入失調電壓會隨著溫度的變化而變化。而我們的實際電路的應用環境溫度總是變化的，這又給我們帶來了棘手的問題。下表就是在OpA376datasheet上截取下來的參數。它溫漂最大值為1uV/℃（-40℃to85℃）。一大批運放的Vos是符合正態分布的，因此datasheet一般還會給出offset分布的直方圖。

當溫度變化時，輸入失調電壓溫漂的定義為：

剛忘記了另一個重要的參數，就是運放輸入失調電壓的長期漂移，一般會給出類似uV/1000hours或uV/moth等。有些datasheet會給出這一參數。

下面舉例計算一下OpA376，在85℃時的最大失調電壓，主要是兩

部分，一部分是25度時的輸入失調電壓，另一部分是溫度變化引起的失調電壓漂移。

具體步聚如下圖。從結果來看似1uV/℃溫漂，在乘上溫度變化時，就成為了誤差的主導。因此，如果設計的電路在寬的溫度范圍下應用，需在特別關注溫漂。

如果放大電路的Gain改為100，則最大輸出失調電壓就為8.5mV。這是最差的情況。

關于輸入失調電壓的測試在“運放參數的詳細解釋和分析-part2，如何測量輸入偏置電流Ib，失調電流Ios”中有介紹，感興趣的話，可以去看看。還有簡單的測試方法，如下圖：

Vos=Vout/1001

需要提醒的是，使用簡易方法測試單電源運放的輸入失調電壓時，需要將輸入端短路并提供一個低噪聲的穩定電壓偏置。如下圖。

TI的運放水平在全球一直處于領選地位，下面列一些TI的低溫漂運放，它們的最大漂移只有0.05uV/℃。輸入失調電壓Vio最大值只有5uV。OpA734OpA735OpA334OpA335